Vybrané přístroje ve výzkumných laboratořích ÚCHI

Podrobnější přehled přístrojového vybavení je obvykle uveden na stránkách jednotlivých výzkumných skupin (např. zde a zde)

AFM (Mikroskopie atomárních sil) Dimension Icon (Bruker)

AFM - výsledek měřeníTento model mikroskopu atomárních sil (AFM) představuje absolutní špičku na trhu. Klasické módy skenování – kontaktní a poklepový – umožňují ve spojení s vynikajícími parametry přístroje získat povrchovou topologii vzorku, stejně jako distribuci mechanických a elektrických vlastností v prostorovém rozlišení pod 1 nm. Součástí výbavy je také antivibrační a termostatický box umožňující bezpečnou charakterizaci a nanolitografii řady materiálů v širokém rozmezí teplot.

Na obrázku: výškový profil nízkohustotního polyetylenu (LDPE) v polystyrenové matrici.

Elektronový mikroskop JCM-5700 SEM (JEOL) + mikrotomograf MICRO-CT (SkyScan)

SEM snímek porézních částic chitosanuTato aparatura představuje elegantní spojení dvou odlišných zobrazovacích technik. Skenovací elektronový mikroskop (SEM) firmy Jeol umožňuje zobrazovat povrch vzorků s rozlišením až 5 nm. Zároveň může být SEM využit jako zdroj rentgenového záření pro nástavbu počítačové mikro-tomografie (μCT) od spol. SkyScan / Bruker, díky níž lze vizualizovat a zpracovávat informace o trojrozměrné struktuře vzorku s rozlišením až 800 nm.

Na obrázku: SEM snímek porézních částic chitosanu zesíťovaného tripolyfosfátovými anionty (TPP)

MRI Desktop System Icon (BRUKER)

3D vizualizace porézní vrstvy polydimetylsiloxanu (PDMS)Tato kompaktní aparatura osazená magnetem o síle 1 Tesla umožňuje (bez nutnosti chlazení kryogenní kapalinou) umožňuje bezpečně provádět nukleární magnetickou rezonanci (MRI) v laboratorním měřítku. Přístroj je tak vhodný jak pro nedestruktivní zobrazování 3D struktury materiálů (v případě biologických vzorků např. drobných hlodavců), tak pro studium transportních jevů probíhajících na malých prostorových měřítkách (např. při řízeném vylučování látek z částic o rozměrech několika mikrometrů).

Na obrázku: 3D vizualizace porézní vrstvy polydimetylsiloxanu (PDMS) získaná metodou MRI.

 

Vysokorychlostní kamera  FASTCAM SA1.1

Vysokorychlostní kamera FastCam SA1.1 umožňuje snímat velmi rychlé děje se snímkovací rychlostí 5400 snímků za sekundu při rozlišení 1024 x 1024 obrazových bodů. Maximální rychlost snímání je 675000 fps (64 x 16 px). Doba záznamu je až 2 sekundy. Velkou výhodou je velká citlivost (ISO 12000), proto kamera nemá extrémní požadavky na světelnost.